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In situ TEM observation on the interface-type resistive switching by electrochemical redox reactions at a TiN/PCMO interface |
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期刊:Nanoscale 作者:Kyungjoon Baek; Sangsu Park; Jucheol Park; Young-Min Kim; Hyunsang Hwang; et al 出版日期:2017-01-01 |
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