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 Improvement in Junction Breakdown and GIDL using MFLA in DRAM Product 在DRAM产品中使用MFLA改善结击穿和GIDL
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期刊：Journal of The Electrochemical Society 作者：Shian-Jyh Lin; Chao‐Sung Lai; Sheng-Tsung Chen; Yi-Jung Chan; Ruey‐Dar Chang; et al 出版日期：2011-01-01 |
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