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 First Experimental Insights into Access-Rate-Dependent Ferroelectric Memory Degradation: Mechanisms and Mitigation through Hybrid Polar Recovery and Operation-Device Co-Optimization |
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期刊：2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：C.-H. Wu; T. Pun; J.-T. Wu; C.-W. Sung; Y.-M. Tseng; et al 出版日期：2025-12-06 |
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(2025-6-4)
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