| 标题 |
  An Empirical Modeling of Gate Voltage-Dependent Behaviors of Amorphous Oxide Semiconductor Thin-Film Transistors including Consideration of Contact Resistance and Disorder Effects at Room Temperature 室温下考虑接触电阻和无序效应的非晶氧化物半导体薄膜晶体管栅极电压相关行为的经验模型
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
接触电阻
无定形固体
阈值电压
光电子学
电导
晶体管
半导体
凝聚态物理
电压
图层（电子）
电气工程
纳米技术
化学
物理
工程类
结晶学
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| 其它 |
期刊：Membranes 作者：Sungsik Lee 出版日期：2021-12-01 |
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