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A Highly Reliable 2-Bits/Cell Split-Gate Flash Memory Cell With a New Program-Disturbs Immune Array Configuration 相关领域
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:L. Fang; Jing Gu; Bo Zhang; Weiran Kong; Shi-Zan Zou 出版日期:2014-06-10 |
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