| 标题 |
Correlation between in situ structural and optical characterization of the semiconductor-to-metal phase transition of VO2 thin films on sapphire |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Nanoscale 作者:Tiziana Cesca; Carlo Scian; Emilija Petronijevic; Grigore Leahu; Roberto Li Voti; et al 出版日期:2019-11-22 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)