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 Analysis and simulation of channel and source-drain contact noise in Indium-Tin-Zinc-Oxide thin-film transistors 相关领域
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期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Xingji Liu; Delang Lin; Yayi Chen; Mingchao Wu; Xiaoqin Ke; et al 出版日期：2025-03-10 |
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