Surface potential profiling and contact resistance measurements on operating pentacene thin-film transistors by Kelvin probe force microscopy

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标题	Surface potential profiling and contact resistance measurements on operating pentacene thin-film transistors by Kelvin probe force microscopy
网址	https://pubs.aip.org/aip/apl/article-pdf/83/26/5539/18585123...
DOI	10.1063/1.1637443 doi
其它	期刊：Applied Physics Letters 作者：Kanan P. Puntambekar; Paul V. Pesavento; C. Daniel Frisbie 出版日期：2003-12-20
求助人	hushus 在 2026-06-05 15:36:42 发布自广东，悬赏 10 积分
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