| 标题 |
Absolute wavelength scanning interferometry for measuring the thickness of optical elements |
| 网址 | |
| DOI |
10.1364/oe.479211
doi
|
| 其它 |
期刊:Optics Express 作者:Pavel Psota; Jan Kredba; Marek Stašík; Jakub Nečásek; Ondřej Matoušek; et al 出版日期:2023-01-17 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)