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[高分]
Characteristics and Evaluation Methods of Carrier Recombination Lifetimes in High-quality Silicon Wafers |
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| DOI |
10.1520/stp15711s
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期刊: 作者:Y. Kitagawara; Tomosa Yoshida; T. Koide; Y. Hayamizu 出版日期:1998-01-01 |
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(2025-6-4)