Silicon Substrate Related Gate Oxide Integrity at Different Oxide Thicknesses

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标题	[高分] Silicon Substrate Related Gate Oxide Integrity at Different Oxide Thicknesses
网址	https://doi.org/10.1520/stp13488s
DOI	10.1520/stp13488s doi
其它	期刊：作者：ED Grann; Arthur Huber; J. Grabmeier; R. Hölzl; R. Wahlich 出版日期：2000-01-01
求助人	lgh 在 2026-09-20 15:48:55 发布自陕西，悬赏 50 积分
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