| 标题 |
Defect simulation in SEM images using generative adversarial networks 基于生成对抗网络的SEM图像缺陷模拟
相关领域
计算机科学
生成语法
人工神经网络
人工智能
生成对抗网络
图像处理
薄脆饼
图像(数学)
计算机工程
深度学习
计算机视觉
机器学习
模式识别(心理学)
工程类
电气工程
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV 作者:Zhe Wang; Liangjiang Yu; Lingling Pu 出版日期:2021-02-19 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|