| 标题 |
XPS study of ion irradiated and unirradiated CeO2 bulk and thin film samples |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Surface Science 作者:К. И. Маслаков; Yury A. Teterin; Aleksej J. Popel; A. Yu. Teterin; K. E. Ivanov; et al 出版日期:2018-04-10 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)