| 标题 |
Enhancing Key Performance of Vertical GaN MOS Capacitors Through GaOx Interface Technology |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's 作者:Jinpei Lin; X.-Y. Pei; Xiaohua Li; Haiwen Liu; Renqiang Zhu; et al 出版日期:2025-06-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)