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  Current induced electromechanical strain in thin antipolar Ag2Se semiconductor 薄反极性Ag2Se半导体中电流感应的机电应变
相关领域
电流（流体）
拉伤
材料科学
半导体
光电子学
生物
物理
解剖
热力学
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期刊：Nature Communications 作者：Hao Luo; Qi Liang; Anan Guo; Yimeng Yu; Haoyang Peng; et al 出版日期：2025-02-20 |
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