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Improving the Reverse-Recovery Performance of Si SJ-MOSFETs With a Low-Voltage GaN HEMT in a Cascode Configuration 用低压GaN HEMT在共源共栅配置中提高Si SJ-MOSFET的反向恢复性能
相关领域
共栅
高电子迁移率晶体管
材料科学
光电子学
MOSFET
氮化镓
电压
电气工程
宽禁带半导体
电子工程
晶体管
工程类
CMOS芯片
纳米技术
图层(电子)
放大器
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Ji Shu; Jiahui Sun; Zheyang Zheng; Kevin J. Chen 出版日期:2024-02-13 |
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