| 标题 |
 Multiple environmental test and genetic mapping jointly reveal genomic loci and associated genes underlying cotton Verticillium wilt resistance |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Theor Appl Genet 作者：Zhang Y, Zhao L, Li Z, Liu B, Lv J, Feng Z, Wei F, Zhou J, Han J, Song Y, Zhu H, Feng H, Ma Z 出版日期：2026-07-18 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
C.Cat
学霸业
学术雷锋
null
GingerF
June
auqkhter
Mic
无极微光
秋风
sanvva
吃葡萄不吐葡萄皮
Criminology34
may
散逸层梦游
Magic
初景
俊逸的映易
尊嘟假嘟
v0id
皖公网安备34019202002308
