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 Kernel-Ridge Regression-Based Quality Measure and Enhancement of Three-Dimensional-Synthesized Images 基于核岭回归的三维合成图像质量度量与增强
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者：Vinit Jakhetiya; Ke Gu; Sunil Jaiswal; Trisha Singhal; Zhifang Xia 出版日期：2020-01-15 |
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