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 The Paradigm Shift in Understanding the Bias Temperature Instability: From Reaction–Diffusion to Switching Oxide Traps 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Tibor Grasser; Ben Kaczer; Wolfgang Goes; H. Reisinger; Thomas Aichinger; et al 出版日期：2011-10-05 |
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