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Spectroscopic ellipsometry study of dielectric functions of Ag films and chemically deposited layers of Ag nanoparticles on silicon |
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期刊:Thin Solid Films 作者:V.A. Tolmachev; E.V. Gushchina; I.A. Nyapshaev; Yu.A. Zharova 出版日期:2022-06-22 |
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