| 标题 |
Studies of ESD-related failure patterns of Agilent oxide VCSELs |
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10.1117/12.482632
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期刊:Proceedings of SPIE 作者:J. Krueger; Reena Sabharwal; Scott A. McHugo; Kimanh Nguyen; Ningxia Tan; et al 出版日期:2003-06-19 |
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