Reliability of gate dielectrics and metal–insulator–metal capacitors

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标题	Reliability of gate dielectrics and metal–insulator–metal capacitors 相关领域电容器材料科学电介质金属绝缘体金属可靠性（半导体）金属绝缘体（电）光电子学金属浇口电气工程电子工程工程类电压晶体管冶金栅氧化层物理功率（物理）量子力学
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2004.11.036
DOI	10.1016/j.microrel.2004.11.036 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Andreas Martin 出版日期：2004-12-30
求助人	支盼夏在 2025-09-24 20:51:24 发布自安徽，悬赏 10 积分
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