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 Reliability of indium-tin-zinc-oxide thin-film transistors under dynamic drain voltage stress 动态漏极电压应力下铟锡锌氧化物薄膜晶体管的可靠性
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Guanming Zhu; Zhiying Chen; Meng Zhang; Lei Lü; Sunbin Deng; et al 出版日期：2024-07-08 |
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