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Identification of Grown-In Defects in CZ Silicon after Cu Decoration |
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期刊:Microscopy Research 作者:Kun-Lin Lin; Yi-Ling Jian; Che-Yu Lin; Chien-Cheng Lin; Yih-Rong Luo; Chien-Chia Tseng 出版日期:2017-09-18 |
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