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 Characterization of SiO2 and TiO2 films prepared using rf magnetron sputtering and their application to anti-reflection coating 相关领域
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期刊：Vacuum 作者：Sang‐Hun Jeong; Jae‐Keun Kim; Bongsoo Kim; Seok-Ho Shim; Byung‐Teak Lee 出版日期：2004-08-05 |
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