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Research on Electromigration Failure Behavior of Redistribution Layer Based on Electrothermal Coupling |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Mingqi Lei; Honghao Chen; Yuexing Wang; Lu Liu; Zhikuang Cai; et al 出版日期:2026-01-01 |
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(2025-6-4)