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 CHARACTERIZATION OF INTERFACE LAYERS OF A SOLID SOLUTION FORMED DURING THE GROWTH OF A CARBIDE LAYER ON SILICON FROM HYDROGEN CONTAINING COMPOUNDS 由含氢化合物在硅上生长碳化物层期间形成的固溶体界面层的表征
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期刊：Journal of Structural Chemistry 作者：L. K. Orlov; V. I. Vdovin; Yu. N. Drozdov; M. L. Orlov; N. L. Ivina; et al 出版日期：2021-04-01 |
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