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  Effective Reduction of Hydrogen Diffusion and Reliability Degradation in Peripheral Transistor of Peripheral-Under-Cell (PUC) NAND Flash Memory 有效减少外围单元（PUC）NAND闪存外围晶体管中的氢扩散和可靠性下降
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期刊：IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者：Eun-Young Park; Hyun‐Yong Yu 出版日期：2024-01-01 |
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