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 Significance of activation functions in developing an online classifier for semiconductor defect detection 激活函数在开发半导体缺陷检测在线分类器中的意义
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期刊：Knowledge-Based Systems 作者：Md Meftahul Ferdaus; Bangjian Zhou; Ji Wei Yoon; Kain Lu Low; Jieming Pan; et al 出版日期：2022-04-21 |
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