Semiconductor Wafer Particle Defect Classification Based on Deep Learning and Multimodal Feature Fusion

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标题	Semiconductor Wafer Particle Defect Classification Based on Deep Learning and Multimodal Feature Fusion
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/10774568/10776603/107767...
DOI	10.1109/iccsnt62291.2024.10776716 doi
其它	期刊：2024 IEEE 12th International Conference on Computer Science and Network Technology (ICCSNT) 作者：Wenxin Liu; Guomeng Li; Qingsong Cui; Zeming Zhang; Xinxin Wang; Chengjie Bai 出版日期：2024-12-07
求助人	禾黍在 2026-06-03 14:20:00 发布自江苏，悬赏 10 积分
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