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Trap-assisted degradation mechanisms in E-mode p-GaN power HEMT: A review |
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Priyanka Nautiyal; Peyush Pande; Virender Kundu; Hamid Amini Moghadam 出版日期:2022-10-19 |
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(2025-6-4)