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Etch proximity correction for curvilinear layout: curve sampling with ML etch bias model 相关领域
曲线坐标
采样(信号处理)
材料科学
曲线拟合
光学
数学分析
数学
几何学
导纳
花键(机械)
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10.1117/12.3089780
doi
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| 其它 |
期刊:DTCO and Computational Patterning V 作者:Shilong Zhang; Dakyeong Seo; Seohyun Kim; Youngsoo Shin 出版日期:2026-04-10 |
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(2025-6-4)