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 SODD-YOLOv8: An Insulator Defect Detection Algorithm based on Feature Enhancement and Variable Row Convolution SODD-YOLOv8：一种基于特征增强和可变行卷积的绝缘子缺陷检测算法
相关领域
卷积（计算机科学）
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期刊：Measurement Science and Technology 作者：Wang Jian-xing; Yuli lu; Bisheng Wei; Gangjin Huang; Jinmei Guo 出版日期：2024-10-02 |
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