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![]() 低温源极/漏极外延和功能硅化物:最终接触结垢的要点
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期刊:2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Clément Porret; J.-L. Everaert; Marc Schaekers; Lars‐Åke Ragnarsson; Andriy Hikavyy; et al 出版日期:2022-12-03 |
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