| 标题 |
Characteristics of N-doped Sb 2 Te 3 Films by X-ray Diffraction and Resistance Measurement for Phase-change Memory |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊: 作者:You Yin; Naoya Higano; Kazuhiro Ohta; A. Miyachi; M. Asai; et al 出版日期:2007-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)