High-resolution X-ray imaging technologies for non-destructive testing of integrated circuits

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标题	High-resolution X-ray imaging technologies for non-destructive testing of integrated circuits 用于集成电路无损检测的高分辨率X射线成像技术
网址	https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S258996512...
DOI	暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？ AI识别 10.1016/j.nanoms.2025.09.014 doi
求助人	科研虫儿在 2025-11-17 08:48:01 发布自湖南，悬赏 10 积分
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