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A novel p-GaN HEMT with superjunction silicon substrate for improved current collapse 用于改善电流崩溃的新型超结硅衬底p-GaN HEMT
相关领域
高电子迁移率晶体管
基质(水族馆)
材料科学
光电子学
硅
电气工程
工程类
生物
晶体管
电压
生态学
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| 其它 |
期刊:Micro and Nanostructures 作者:Boyuan Feng; Ying Wang; Cheng‐Hao Yu; Haomin Guo 出版日期:2025-02-14 |
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