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 Effect of Si segregation at grain boundaries on the mechanical behaviours of ageing Al metallization layer in insulated gate bipolar transistor module 晶界Si偏析对绝缘栅双极晶体管老化Al金属化层力学行为的影响
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期刊：Molecular Simulation 作者：Tong An; Xiaoxuan Chen; Qi Wang; Jing Han; Fei Qin; et al 出版日期：2023-06-24 |
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