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Properties of SiO2 Thin Films Deposited by Atomic Layer Deposition in relation to Growth Temperature 原子层沉积SiO2薄膜与生长温度的关系
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期刊:New Physics Sae Mulli 作者:Geon Park; nbsp Inseo Kim; nbsp Hojung Sun; nbsp Yongjei Lee; nbsp Kimoon Lee; et al 出版日期:2023-01-31 |
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