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 Electronic excitation-induced tunneling and charge-trapping explored by in situ electrical characterization in Ni/HfO2/β-Ga2O3 metal–oxide–semiconductor capacitors |
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期刊：Materials Science and Engineering: B 作者：N. Manikanthababu; B.R. Tak; K. Prajna; S. Sarkar; R.C. Meena; et al 出版日期：2022-04-22 |
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