| 标题 |
4D Imaging of Transient Structures and Morphologies in Ultrafast Electron Microscopy 超快电子显微镜中瞬态结构和形态的4D成像
相关领域
超短脉冲
显微镜
飞秒
时间分辨率
衍射
图像分辨率
超快电子衍射
电子显微镜
电子
分辨率(逻辑)
光学
材料科学
纳米尺度
图像扭曲
电子衍射
纳米技术
物理
激光器
计算机科学
量子力学
人工智能
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Science 作者:Brett Barwick; Hyun Soon Park; Oh‐Hoon Kwon; J. Spencer Baskin; Ahmed H. Zewail 出版日期:2008-11-20 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)