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Fabrication of crack-free strained SiGe/Ge multiple quantum wells on Ge-on-Si(111) by the patterning method 图案化法制备Ge-on-Si(111)上无裂纹应变SiGe/Ge多量子阱
相关领域
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期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Rena Kanesawa; Shuya Kikuoka; Yusuke Shibahara; Youya Wagatsuma; M. Yamada; et al 出版日期:2024-03-23 |
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