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  书籍（章节） Micro–X-ray fluorescence (µXRF) analysis of proximal impactites: High-resolution element mapping, digital image analysis, and quantifications 近端冲击矿的微X射线荧光(µXRF)分析：高分辨率元素绘图、数字图像分析和定量
相关领域
微量元素
地质学
矿物学
岩性
地球化学
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| 其它 |
期刊：Geological Society of America eBooks 作者：Pim Kaskes; Thomas Déhais; Sietze J. de Graaff; Steven Goderis; Philippe Claeys 出版日期：2021-04-17 |
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