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P‐12: Improve the Reliability of a‐IGZO TFT through Optimizing the Threshold Voltage and Channel Thickness in AMOLED Hybrid Backplane |
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期刊:SID Symposium Digest of Technical Papers 作者:Dongliang Yu; Ying Shen; Yunhai Wan; Wenzhi Fan; Weibin Zhang 出版日期:2024 |
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(2025-6-4)