Analysis of Degradation Mechanisms in Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Dynamic Drain Stress

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标题	Analysis of Degradation Mechanisms in Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Dynamic Drain Stress
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/16/6200907/06178788.pdf?...
DOI	10.1109/ted.2012.2189218 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Meng Zhang; Mingxiang Wang; Xiaowei Lu; Man Wong; Hoi-Sing Kwok 出版日期：2012-04-05
求助人	零点在 2026-10-27 15:28:46 发布自四川，悬赏 10 积分
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