| 标题 |
Solder joint fatigue life prediction of bottom-terminated component packages under combined thermal cycling and random vibration loading using Coffin-Manson modelling |
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| DOI |
10.22271/27084493.2026.v6.i2a.95
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| 其它 |
期刊:International Journal of Electronics and Microcircuits 作者:Won-seok Heo 出版日期:2026-09-09 |
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(2025-6-4)