Effects of elevated temperature exposure on the residual stress state and microstructure of PVD Cr coatings on SiC investigated via in situ X-ray diffraction and transmission electron microscopy

材料科学 微观结构 高功率脉冲磁控溅射 涂层 残余应力 复合材料 透射电子显微镜 溅射沉积 溅射 冶金 薄膜 纳米技术
作者
Kyle Quillin,Hwasung Yeom,Xiaofei Pu,D. Frazer,K.N. Sasidhar,Kumar Sridharan
出处
期刊:Materials Science and Engineering A-structural Materials Properties Microstructure and Processing [Elsevier BV]
卷期号:879: 145273-145273 被引量:9
标识
DOI:10.1016/j.msea.2023.145273
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