Uniformity and Repeatability of the Electrical Performance of 4H-SiC Lateral CMOS Devices and Circuits After Postprocessing Annealing

重复性 材料科学 CMOS芯片 电子线路 退火(玻璃) 电子工程 光电子学 集成电路 电气工程 半导体器件建模 逻辑门 电路设计
作者
Nicola Rinaldi,Julien Koerfer,Alexander May,Rosalba Liguori,Alfredo Rubino,Gian Domenico Licciardo,Mathias Rommel,Luigi Di Benedetto
出处
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices [Institute of Electrical and Electronics Engineers]
卷期号:73 (1): 243-249
标识
DOI:10.1109/ted.2025.3640151
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