Machine learning in electron beam lithography to boost photoresist formulation design for high-resolution patterning

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作者
Rongbo Zhao,Xiaolin Wang,Hong Xu,Yayi Wei,Xiangming He
出处
期刊:Nanoscale [Royal Society of Chemistry]
卷期号:16 (8): 4212-4218 被引量:5
标识
DOI:10.1039/d3nr04819e
摘要

A high-precision photoresist imaging model and formulation optimizer for electron beam lithography are developed. The optimized photoresist formulation meets the preset imaging performance requirement, boosting photoresist material design.
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