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作者
Satoshi Ishii,Daisuke Yabe,S. Koshio,Toshio Hirao,Shotaro Enomoto,Teruaki Konishi,Tsuyoshi Hamano
标识
DOI:10.1109/radecs.2015.7365689
摘要
Total ionizing dose effects on carbon nanotube network transistors were experimentally evaluated using 60Co gamma-ray irradiation up to 50 kGy(Si). The electrical characteristic of the devices after irradiation are reported for future space applications.
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